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dc.creatorArce Ulloa, Jorge
dc.date2011-08-05
dc.date.accessioned2016-05-03T15:09:55Z
dc.date.available2016-05-03T15:09:55Z
dc.identifierhttp://revistas.ucr.ac.cr/index.php/ingenieria/article/view/7654
dc.identifier10.15517/ring.v4i1.7654
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/10669/24350
dc.descriptionLos devanecimientos debido a trayectorias múltiples en enlaces largos de microondas analógicas y digitales en la mayoría de los casos son al condición que afecta mas significaivamente el desempeño del enlace.En este artículo se discutirá los fundamentos estadísticos del desvanecimiento plano tipo Rayleigh, que ha sido usado en el diseño de radioenlaces en nuestro ambiente.es-ES
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherUniversidad de Costa Ricaen-US
dc.rightsCopyright (c) 2014 Revista Ingenieríaen-US
dc.sourceJournal of Tropical Engineering; Vol 4, No 1 (1994)en-US
dc.sourceRevista Ingeniería; Vol 4, No 1 (1994)es-ES
dc.sourceIngeniería; Vol 4, No 1 (1994)pt-PT
dc.source2215-2652
dc.source1409-2441
dc.titleDESVANECIMIENTO POR MULTITRAYECTORIAS DE ENLACES DE MICROONDASes-ES
dc.typeartículo original


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