Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz
Abstract
Description
Keywords
OPTOELECTRONICA - INVESTIGACIONES, SILICIO - PROPIEDADES ELECTRICAS, DIODOS EMISORES DE LUZ, DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS
Citation
https://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr/handle/123456789/1091